陶瓷电容tcc测试图及结果详解
陶瓷电容TCC测试的核心结论：温度稳定性与参数判定是核心关注点 测试方法与设备陶瓷电容TCC测试的核心目的是验证其在极端温度下的性能稳定性。测试时需在额定电压和极限温度下持续通电1000-2000小时，重点关注电容值、ESR（等效串联电阻）、漏电流等参数变化。
MLCC（Multi-layer Ceramic Capacitors）即片式多层陶瓷电容器，是由印好电极的陶瓷介质膜片以错位的方式叠合起来，经过一次性高温烧结形成陶瓷芯片，再在芯片的两端封上金属层，从而形成一个类似独石的结构体。
贴片电容NPO与X7R详细介绍NPO（NP0）电容 NPO（或NP0，Negative-Positive-Zero）电容属于Ⅰ类陶瓷电容器，也被称为高频陶瓷电容器。
Ⅰ类陶瓷的温度容量特性（TCC）非常小，变化远小于1皮法，单位通常为ppm/℃。C0G电容器的温度系数为0 ppm/℃，表示其容量不随温度变化。C表示有效数字为0，0表示倍乘因数为-1（即10的0次方），G代表容差为±30ppm，最终计算得出的TCC为：0×（-1）ppm/℃±30ppm/℃。
